PHASICS 光学部品・システムの設計波長での測定 コーティングされた光学部品の設計波長における波面誤差測定：あなたの波長が私たちの基準です! 分光コーティング、反射防止コーティング、高反射率コーティングなど、ほとんどの光学部品は、特定の波長域で動作するように作られています。したがって、光学性能と仕様は、それらの光学部品が設計されているスペクトル範囲で示されるべきです。633nmのレーザー干渉計の横暴から脱却し、理にかなった波面誤差計測を行うために、Phasicsを信頼してください! あなたの波長が私たちの基準です。弊社の波面センサーと測定器はすべて、特許取得済みのQuadriwave Lateral Shearing Interferometry技術に基づいており、真にアクロマティックな透過および反射波面エラー測定を提供します。 透過型波面誤差 (TWE) 測定セットアップ 透過型波面誤差（TWE）測定は、テスト対象のコンポーネントと計測要件に応じて、シングルパスまたはダブルパス構成で実行することができます。ファジックスのソリューションは、完全統合型装置、ファジックスのエンジニアが開発したモジュール型ソリューション、またはお客様のテストシステムに組み込むスタンドアロン型のSID4波面センサーなど、多岐に渡ります。Phasicsの波面センサーはアクロマティックで、レーザー、LED、チューナブルレーザー、ブラックボディなど、様々な光源に対応しています。これにより、測定対象である光学部品やシステムの動作条件に限りなく近い状態で、計測テストを行うことができます。 反射波面誤差(RWE)測定セットアップ 反射波面誤差（RWE）の測定には、テストベンチや測定機、R-Cube照明モジュールなどのアクセサリーをご提案しています。照明光源を柔軟に選択することで、コーティングの特性に合わせた測定が可能です。 オフアクシスセットアップ 上記と同じ原理で、軸外で波面誤差を測定することができます。 測定例 TWE & MTF｜F/1レンズ｜10.6μm RWE | 平面 3" 表面 | 2040 nm RWE｜4インチコンストレイントミラー｜3λ 利点 汎用性の高い技術 同一テストベンチで複数のλ プラノオプティクスまたはイメージングオプティクス RWEおよびTWE ON & OFF Axis 強力な独自技術 真のアクロマティシティ 偏光独立 大きなダイナミクス 組み込みが簡単 プラグアンドプレイ波面センサー 小さなフォームファクター 振動の影響を受けない
