PRODUCTSSID4-HR 超高解像度波面センサー PHASICS

SID4-HR 超高解像度波面センサー PHASICS

PHASICS

SID4-HR

スペクトル範囲 VIS-NIR(400-1100 nm)

材料検査 光学計測 レーザー測定

SID4 HR は、最も要求の厳しい波面測定アプリケーションに、超高位相サンプリング (416 x 360) と高ダイナミックレンジ (500 µm PV) を提供します。その大きなアパーチャと極めて高い波面感度は、リレー光学系を使用しない大きな発散ビームの直接測定に完全に適しています。

主な機能

非常に高い解像度(400 x 300フェーズピクセル)
大きな分析瞳孔:11.8x8.9mm²
0.8までの高NAビームの直接測定


アプリケーション
• Laser testing, adaptive optics, and plasma diagnostics  Optics metrology and optical system alignment  Material inspection 
レーザーテスト、補償光学、およびプラズマ診断•光学計測および光学システムの調整•材料検査• 

仕様
 

Wavelength range 400 - 1100 nm
Aperture dimension 9.98 x 8.64 mm²
Spatial resolution 24 µm
Phase and Intensity sampling 416 x 360
Resolution (Phase) <2 nm RMS
Accuracy 20 nm RMS
Acquisition rate 10 fps
Real-time processing frequency* 3 fps (full resolution)
Interface Giga Ethernet
Dimensions (WxHxL) 80 x 77.5 x 86.4 mm³
Weight ~600 g

SID4ソフトウェアを使用


以下のPDFはご請求ください。
SID4 - HR 波面センサー - 仕様書
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション

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