PRODUCTSKaleo MTF MTF 自動検査ステーション PHASICS

Kaleo MTF MTF 自動検査ステーション PHASICS

 PHASICS

MTF Kaleo ステーション
スペクトル範囲 UV(190-400 nm) VIS - NIR(400-1100 nm) SWIR(900 - 1700nm)


光学計測

Kaleo MTF測定器は、設計、試作、生産段階でのレンズの測定に最適です。軸上および軸外のMTF、ラジオメーター、多波長での波面誤差など、最も完全なレンズ特性評価を実現します。また、高CRA、高FOVでもMTF測定精度は変わりません。

主な機能
大視野(最大±90°)、CRA(最大50°)レンズ対応
シングルショットMTFおよびWFE測定
軸上および軸外無限から有限の構成

アプリケーション

光学計測と光学システムの調整
 

仕様

MTF on-axis Accuracy <1%* - Repeatibility <0.5%*
MTF off-axis Accuracy <2%** - Repeatibility <1%**
MTF max frequency 1000 lp/mm
Distortion Accuracy <0.5% - Repeatibility <0.05%
OPD (on-axis) Accuracy <20nm RMS - Repeatibility <5nm RMS

* この仕様は、660nmで3つの周波数で測定された光学部品に対して得られています。
** 本仕様は、全視野での仕様です。


以下のPDFはご請求ください。
パンフレット - 光学計測ソリューション
Kajeo MTF テストステーション - 仕様書

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