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PRODUCTSSID4-DWIR 3〜5μm、および8~14μm デュアルバンド波面センサー PHASICS

SID4-DWIR 3〜5μm、および8~14μm デュアルバンド波面センサー PHASICS

 PHASICS

SID4-DWIR
スペクトル範囲 MWIR(3-5μm)LWIR(8-14μm)


光学計測 レーザー測定

SID4 DWIRは、3~5μmと8~14μmのデュアルバンド赤外用の初の既製高分解能波面センサです。
赤外光学部品、黒体光源、3.39 µmまたは10.6 µmレーザービーム、システムの特性評価に適しています。

主な機能
高解像度 - 160 x 120 位相画素
MWIR & LWIRバンドを同一センサーで実現
リレーレンズ不要の高NA測定

アプリケーション

- レーザ計測、補償光学、プラズマ診断 ・光学計測、光学系アライメント ・光学系アライメント

仕様

波長範囲 3〜5 µmおよび8〜14 µm
開口部の寸法 10.88x8.16mm²
空間分解能 68 µm
位相と強度のサンプリング 160 x 120
解像度(フェーズ) 75 nm RMS
精度(絶対) 25 nm RMS
取得率 50 fps
リアルタイム処理頻度* > 10 fps(フル解像度)*
インターフェース ギガビット イーサネット
寸法(WxHxL) 85 x118x193mm³
重量 〜1.6 kg

SID4ソフトウェアを使用


以下のPDF資料はご請求ください。
SID4-DWIR 波面センサー - 仕様書
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション

 

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