PRODUCTSKaleo Kit 光学機器認定用のモジュールシステム PHASICS

Kaleo Kit 光学機器認定用のモジュールシステム PHASICS

 PHASICS

Kaleo Kit
スペクトル範囲 UV(190-400 nm) VIS- NIR(400-1100 nm) SWIR(900-1700 nm) MWIR(3 - 5μm)


光学測定

Kaleo Kitは、光学機器評価用のモジュールシステムです。幅広い互換性のあるモジュールを組み合わせることで、費用対効果が高く、コンパクトで使いやすいシステムを構築でき、幅広い測定構成に対応し、あらゆる開発段階においてサンプルの品質を確保することができます。1回の測定で、サンプルのあらゆる特性を把握できます。TWE、RWE、波面収差、MTF、PSFなど、さまざまな測定が可能です。

主な機能

汎用性:UVからIRまで対応、モジュールはスタンドアロンで使用可能
強力な独自技術:高解像度、広いダイナミックレンジ、ナノメートル単位の感度
使いやすさ:コンパクト、位置合わせが容易 

アプリケーション

光学計測と光学システムの調整 

仕様

1 - 波面センサーの選択 SID4 UV / SID4 / SID4 HR / SID4 UHR / SID4 SWIR / SID4 SWIR HR / SID4 DWIR
2 - R-Cubeの波長(nm)*を選択してください。 365 / 405 / 530 / 625 / 740 / 780 / 810 / 850 / 940 / 1050 / 1550 / 3900
3.1 - 集光システムでビームを整形する(F#)* 0.6 / 1 / 1.6 / 2.5 / 5 / 10
3.2 - ビームエキスパンダーでビームを整形 - 射出瞳孔径(mm)* 8 / 15 / 30 / 60 / 130
+ 参照ミラー Flat or sphere

* オプション あります。

以下のPDFはご請求ください。
Kajeo Kit  - 仕様書
パンフレット - 光学計測ソリューション

 

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