SID4-eSWIR 高解像度拡張SWIR波面センサー PHASICS
PHASICS
SID4-eSWIR
スペクトル範囲 SWIR (900 - 1700 nm) eSWIR (1.7 - 2.35 µm)
光学計測 レーザー測定
SID4 eSWIR 波面センサーは、ファジックスの特許技術と T2SL 検出器を統合し、0.9 ～ 2.35 μm の拡張 SWIR レンジをカバーする唯一の高解像度波面センサーとなっています。SID4 eSWIR は、光通信、検査機器、軍事・監視機器のナイトビジョンに使用される SWIR 光源やレンズのテストに最適な革新的なソリューションです。
主な機能
0.9〜2.35μmまでの幅広いスペクトル範囲
高解像度 - 80 x 64 位相ピクセル
コンパクトで自己参照型のため、セットアップが容易
応用
- レーザ計測、補償光学、プラズマ診断 ・光学計測、光学系アライメント ・光学系アライメント
仕様
*コヒーレントソースの場合
以下のPDF資料をご請求ください。
SID4-eSWIR波面センサー - 仕様
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション
