PRODUCTSSID4 LWIR 遠赤外波面センサー PHASICS

SID4 LWIR 遠赤外波面センサー PHASICS

 PHASICS

SID4 LWIR

スペクトル範囲 LWIR (8 -14 μm)

 

光学計測 レーザー測定
SID4 LWIRは、長波長赤外領域(8μm~14μm)に高解像度波面計測をもたらし、CO2やOPOレーザービーム計測、赤外線画像、セキュリティ、セーフティビジョンに使用されるIRコンポーネントやレンズの特性評価などに使用されます。

主な機能
8~14μmのLWIR帯全域でアクロマティックを実現
非冷却型フォーカルプレーンアレイ技術
高解像度。160 x 120 位相ピクセル

アプリケーション

レーザ計測、補償光学、プラズマ診断 ・光学計測、光学系アライメント ・光学系アライメント

仕様

Wavelength range 8-14 µm
Aperture dimension 16.00 x 12.00 mm²
Spatial resolution 100 µm
Phase and Intensity sampling 160 x 120
Resolution (Phase) 25 nm RMS
Accuracy (Absolute) 75 nm RMS
Acquisition rate 24 fps
Real-time processing frequency* 10 fps (full resolution)*
Interface Giga Ethernet
Dimensions (WxHxL) 90 x 96 x 110 mm³
Weight ~850 g

*  SID4ソフトウェアを使用
 

以下のPDF資料はご請求ください。
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション
パンフレット - SID4-NIR 波面センサー - 仕様書




 

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