PHASICS
SID4 LWIR
スペクトル範囲 LWIR (8 -14 μm)
光学計測 レーザー測定 SID4 LWIRは、長波長赤外領域(8μm~14μm)に高解像度波面計測をもたらし、CO2やOPOレーザービーム計測、赤外線画像、セキュリティ、セーフティビジョンに使用されるIRコンポーネントやレンズの特性評価などに使用されます。 主な機能 8~14μmのLWIR帯全域でアクロマティックを実現 非冷却型フォーカルプレーンアレイ技術 高解像度。160 x 120 位相ピクセル アプリケーション
•レーザ計測、補償光学、プラズマ診断 ・光学計測、光学系アライメント ・光学系アライメント•
仕様
* SID4ソフトウェアを使用
以下のPDF資料はご請求ください。 パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション パンフレット - 光学計測ソリューション パンフレット - SID4-NIR 波面センサー - 仕様書