PRODUCTSSID4-SWIR SWIR波面センサー PHASICS

SID4-SWIR SWIR波面センサー PHASICS

 PHASICS

SID4-SWIR
スペクトル範囲 SWIR(900〜1700 nm)


光学計測 レーザー測定

SID4 SWIR 波面センサーは、Phasicsファジックスの特許技術とInGaAs検出器を統合しています。高空間分解能(80 x 64 位相ピクセル)と高感度により、900nm から 1.7μm までの波面を正確に測定することが可能です。SID4 SWIR は、光通信、検査機器、軍事・監視用機器のナイトビジョンに使用される SWIR 光学系をテストするための革新的なソリューションです。

主な機能
高解像度 - 80 x 64位相画素
高感度 - 低エネルギー赤外線源に対応
コンパクトで自己参照型、セットアップが容易

アプリケーション

レーザーテスト、補償光学、およびプラズマ診断光学計測および光学システムの調整

仕様

Wavelength range 0.9 - 1.7 µm
Aperture dimension 9.60 x 7.68 mm²
Spatial resolution 120 µm
Phase and Intensity sampling 80 x 64
Resolution (Phase) < 2 nm RMS
Accuracy (Absolute) 15 nm RMS
Acquisition rate 30 fps
Real-time processing frequency* > 7 fps (full resolution)*
Interface Giga Ethernet
Dimensions (WxHxL) 100 x 55 x 63 mm³
Weight ~ 500 g

* SID4ソフトウェアを使用

以下のPDF資料をご請求ください。
カタログ - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
カタログ - 光学計測ソリューション
SID4-SWIR 波面センサー - 仕様

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