PRODUCTSSID4-SWIR-HR 高解像度SWIR波面センサー PHASICS

SID4-SWIR-HR 高解像度SWIR波面センサー PHASICS

 PHASICS

SID4-SWIR-HR

スペクトル範囲 SWIR(900〜1700 nm)


光学計測 レーザー測定

SID4 SWIR HR 波面センサーは、Phasics 社の特許技術と InGaAs 検出器を統合したものです。超高空間分解能(160 x 128 phase pixels)と高感度により、900 nm から 1.7 µm までの波面計測を正確に行うことが可能です。SID4 SWIR HRは、光通信、検査機器、軍事・監視用機器のナイトビジョンに使用されるSWIR光学系をテストするための革新的なソリューションです。

主な機能

0.9〜1.7µmの拡張スペクトル範囲 0.9〜1.7µm
非常に高い解像度– 160 x128フェーズピクセル
高感度–低エネルギーIRソースと互換性
 

アプリケーション

- レーザ計測、補償光学、プラズマ診断 ・光学計測、光学系アライメント ・光学系アライメント

仕様

Wavelength range 0.9 -1.7 µm
Aperture dimension 9.60 x 7.68 mm²
Spatial resolution 60 µm
Phase and Intensity sampling 160 x 128
Resolution (Phase) < 2 nm RMS
Accuracy (Absolute) 15 nm RMS
Acquisition rate 30 fps
Real-time processing frequency* > 7 fps (full resolution)*
Interface Giga Ethernet
Dimensions (WxHxL) 100 x 55 x 63 mm³
Weight ~500 g

 SID4ソフトウェアを使用

 

以下のPDFはご請求ください。
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション
SID4-SWIR-HR 波面センサー - 仕様書 

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