PRODUCTSSID4-UV-HR 190nmまで感度の高いUV波面センサー PHASICS

SID4-UV-HR 190nmまで感度の高いUV波面センサー PHASICS

 PHASICS

SID4-UV-HR

スペクトル範囲 UV(190-400 nm)

光学計測 レーザー測定Phasics の特許技術に基づく SID4 UV HR 波面センサーは、190 nm から 400 nm の紫外線スペクトルにおいて、比類のない高解像度(355 x 280 測定ポイント)と非常に高い感度(1 nm RMS)の両方を提供します。その結果、SID4 UV HR は光学部品の特性評価(リソグラフィー、半導体など)や表面検査(レンズ、ウェハーなど)に完璧に適応しています。

主な機能

190nmまでの感度
高感度– 1 nm RMS
非常に高い解像度(355 x 280サンプリング)

アプリケーション

レーザーテスト、補償光学、およびプラズマ診断•光学計測および光学システムの調整•

仕様

SID4-UV-HR

Wavelength range 190 - 400 nm
Aperture dimension 13.84 x 10.88 mm²
Spatial resolution 38.88 µm
Phase and intensity sampling 355 x 280
Resolution (Phase) 1 nm RMS
Accuracy (Absolute) 10 nm RMS
Acquisition rate 30 fps
Real-time processing frequency* 3 fps (full resolution)*
Interface Camera Link
Dimensions (WxHxL) 78 x 88.1 x 70.8 mm³
Weight ~575g

SID4ソフトウェアを使用
 

以下のPDFはご請求ください。
パンフレット - レーザーテストおよび補償光学ソリューション
パンフレット - 光学計測ソリューション
SID4-UV-HR 波面センサー - 仕様書 

 

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